弱可検査性のための設計目標抽出を利用したデータパス高位合成
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概要
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非スキャン設計のためのテスト容易性尺度である弱可検査性を考慮したデータパス高位合成手法を提案する. 筆者らはこれまで, 弱可検査なデータパスの高位合成に関し, 合成後のデータパスが弱可検査となるような, ハードウェア要素共有に対する制約に関する十分性を示し, この十分性を満たす制約を設計目標として考慮する高位合成法を提案している. 本研究では, まず合成前の動作記述であるデータフローグラフから合成後のデータパスが弱可検査となるための十分条件である設計目標の抽出手法を提案し, 高位合成の主な処理であるスケジューリング, バインディングに関して, 設計目標と面積をともに考慮する発見的手法を提案する. 提案した手法を繰り返し適用することで時間制約のもとで面積が小さくかつ弱可検査なデータパスを合成する手法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-02-25
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
東村 剛嗣
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科:(現)日本ibm株式会社
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