弾道電子放出顕微鏡によるホットエレクトロン回折実験の数値解析 : 量子相反性成立の起源(量子効果デバイス及び関連技術)
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概要
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先に提案された弾道電子放出顕微鏡(BEEM)を用いた固体中ホットエレクトロンの量子回折実験の理論的基礎付けを数値シミュレーションにより行なった。走査探針より放出された電子の半導体における波動関数は、ベース金属/半導体界面における両者の伝導帯底不連続、有効質量の違いに基づく強い屈折効果により、全角度に広がった擬似的な球面波となる。このため、実験原理である量子相反性がBEEMを用いた実験構成で利用できる。半導体中に作製されたπ-位相シフタ構造による回折パターンを時間領域有限差分法(FDTD法)により計算したところ、高いビジビリティが得られ、我々の回折観測シナリオがBEEM系までを含めて確認された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-01-22
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