大野 雄高 | 名古屋大学大学院工学研究科
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概要
関連著者
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大野 雄高
名古屋大学大学院工学研究科
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水谷 孝
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岸本 茂
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名大工
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名古屋大学大学院工学研究科量子工学専攻
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水谷 孝
名古屋大学工学研究科
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岸本 茂
名古屋大学工学研究科
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前澤 宏一
名古屋大学大学院工学研究科
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富山大学大学院理工学研究部
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名古屋大学工学研究科
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岸本 茂
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川野 陽一
名古屋大学工学研究科
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横山 雄司
名古屋大学工学研究科
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川野 陽一
名古屋大学大学院工学研究科
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横山 雄司
名古屋大学大学院工学研究科
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沖野 徹
名古屋大学工学部
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篠原 久典
名大理
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篠原 久典
名古屋大
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鈴木 耕佑
名古屋大学工学研究科
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落合 大
名古屋大学工学研究科 量子工学専攻
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篠原 久典
名古屋大学 大学院理学研究科/高等研究院
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篠原 久典
名大院理
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篠原 久典
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
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曽我 育生
名古屋大学大学院工学研究科
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鈴木 耕介
名古屋大学工学研究科
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秋田 光俊
名古屋大学工学研究科
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丸山 茂夫
東京大学大学院工学系研究科
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村上 陽一
東大院工
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岡崎 俊也
名大院理
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岡崎 俊也
名古屋大学大学院理学研究科
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岡崎 俊也
産業技術総合研究所ナノカーボン研究センター
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岩附 伸也
名古屋大学工学研究科
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仲尾 健
名古屋大学工学研究科
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合田 祐司
名古屋大学工学研究科
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林 慶寿
名古屋大学工学研究科
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黒川 雄斗
さきがけ
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嶋田 行志
名古屋大学工学研究科
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石田 将史
名古屋大学理学研究科
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酒井 朗
東京大学工学研究科
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黒川 雄斗
名古屋大学工学研究科
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村上 陽一
東京大学工学研究科
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丸山 茂夫
東京大学工学研究科
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大坂 次郎
名古屋大学工学部
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西浦 政人
名古屋大学工学部
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酒井 朗
大阪大学大学院基礎工学研究科
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酒井 朗
名古屋大学
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森山 直希
名古屋大学工学研究科
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北村 隆光
名古屋大学工学研究科
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小本 芳裕
名古屋大学工学研究科
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酒井 朗
名古屋大
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能生 陽介
名大工
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能生 陽介
名古屋大学大学院工学研究科
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村上 陽一
名古屋大学理学研究科
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丸山 茂夫
名古屋大学工学研究科
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篠原 久典
東京大学工学研究科
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外村 卓也
バンドー化学
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川田 健二
名古屋大学量子工学
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川田 健二
名古屋大学
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中田 弘章
日鉱金属株式会社
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高草木 操
日鉱マテリアルズ 戸田プラント
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中田 弘章
日鉱マテリアルズ 戸田プラント
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畑 克彦
バンドー化学
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高草木 操
(株)日鉱マテリアルズ
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青山 朋子
名古屋大学大学院工学研究科
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沖川 侑揮
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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武居 正史
バンドー化学
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樋口 健太郎
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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中嶋 勇太
バンドー化学株式会社R&Dセンター
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丸山 茂夫
東京大学
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岩崎 慎也
名大工
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岩崎 慎也
名古屋大学
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村上 陽一
東京大学
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林 将司
名古屋大学工学研究科
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酒井 朗
名古屋大学工学研究科
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澤木 宣彦
名古屋大学大学院工学研究科
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村田 智洋
名古屋大学工学研究科
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石井 聡
名古屋大学
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熊田 圭一郎
名古屋大学工学研究科
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田中 哲朗
名古屋大学大学院工学研究科
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澤木 宣彦
名古屋大学
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川野 陽一
(現)(株)富士通研究所フォトエレクトロニクス研究所
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酒向 万里生
名古屋大学工学研究科
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澤木 宣彦
名古屋大学大学院
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大野 雄高
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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鈴木 耕佑
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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岸本 茂
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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岸本 茂
名古屋大学大学院工学研究科
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水谷 孝
名古屋大学大学院工学研究科
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岸本 茂
名古屋大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー
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深谷 徳宏
名古屋大学大学院工学研究科量子工学専攻
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金 東榮
早稲田大学先進理工学部応用化学科
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野田 優
早稲田大学先進理工学部応用化学科
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武居 正史
バンドー化学株式会社R&Dセンター
著作論文
- ALD成膜HfO_2ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MOSFETの作製・評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- カーボンナノチューブトランジスタにおける電極界面の特性
- AlNセラミック基板上への微小AlGaAs/GaAs HEMTブロックのアセンブル(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- 27aUA-1 カーボンナノチューブの蛍光の環境効果 : カイラリティ依存性(27aUA ナノチューブ光物性I,領域7(分子性固体・有機導体))
- CS-6-5 カーボンナノチューブFETの伝導型制御と電極界面特性(CS-6.ナノデバイスのための薄膜・材料技術-有機と無機/金属から絶縁体-あらゆる可能性を求めて,エレクトロニクス2)
- C-10-10 Fluidic Assemblyを用いたSi基板上へのInGaAs/AlAs共鳴トンネルダイオードの直接集積(C-10.電子デバイス,エレクトロニクス2)
- 異種基板上への半導体デバイスの直接集積(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- フラーレン内包カーボンナノチューブFETの作製と評価(量子効果デバイス及び関連技術)
- フラーレン内包カーボンナノチューブFETの作製と評価
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- カーボンナノチューブのフォトルミネッセンスにおける励起子遷移と周辺環境効果
- GaN ELO結晶上微小ショットキー接合の電気特性評価
- トップゲートカーボンナノチューブFETにおけるゲート絶縁膜界面電荷の影響(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)
- 微小半導体素子の自己整合配置(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- フラーレン内包カーボンナノチューブFETの作製と評価(量子効果デバイス及び関連技術)
- GaN HEMTのエレクトロルミネッセンス(III族窒化物研究の最前線)
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- 顕微ラマン分光法によるGaN HEMTの温度分布測定(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- 顕微ラマン分光法によるGaN HEMTの温度分布測定(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- ALD成膜HfO_2ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MOSFETの作製・評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- ALD成膜HfO_2ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MOSFETの作製・評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- 共鳴トンネルカオス回路における高周波カオス制御とその応用(量子効果デバイス及び関連技術)
- 共鳴トンネルカオス回路における高周波カオス制御とその応用(量子効果デバイス及び関連技術)
- TC-1-5 共鳴トンネル素子を利用した超高周波カオス生成とその分周器への応用
- 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣ変調器IC
- 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣ変調器IC
- A-2-2 共鳴トンネル素子を用いた50GHzカオス集積回路
- C-10-14 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣ変調器IC
- C-10-4 共鳴トンネルカオス回路を用いた50GHz分周期
- C-10-16 共鳴トンネルカオス回路を利用した分周器の高速動作
- メタモルフィックInAlAs/InGaAs HEMTsの電気的特性評価
- メタモルフィック InAlAs/InGaAs HEMTsの電気的特性評価
- C-10-11 容量結合型共鳴トンネル論理ゲート C^2MOBILE の実験的検証
- C-10-12 共鳴トンネルカオス回路における高周波カオス制御(C-10.電子デバイス)
- C-10-11 共鳴トンネル素子とMOSFETを用いたMOBILEの可能性(C-10.電子デバイス)
- AlGaN/GaN HEMTの電流DLTS(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- AlGaN/GaN HEMTの電流DLTS(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- AlGaN/GaN HEMTの電流DLTS(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- AlGaN/GaN HEMTの電流DLTS
- Si_3N_4ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MIS-HEMT(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- Si_3N_4ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MIS-HEMT(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
- Si_3N_4ゲート絶縁膜を有するAlGaN/GaN MIS-HEMT(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- SC-9-4 Fluidic Assembly 法を用いた微小デバイスブロックの配置技術
- SC-6-4 光学的手法によるGaN HEMTの動作解析
- GaN HEMTの高周波特性の温度依存性評価(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- GaN HEMTの高周波特性の温度依存性評価(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- GaN HEMTのエレクトロルミネッセンス(III族窒化物研究の最前線)
- GaN HEMTのエレクトロルミネッセンス(III族窒化物研究の最前線)
- 共鳴トンネル論理ゲートMOBILEにおける入力用HEMTのゲート幅と動作速度の関係
- 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣADコンバータ
- 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣADコンバータ
- GaN HEMTの電流コラプス
- GaN HEMTの電流コラプス
- GaN HEMTの電流コラプス
- C-10-4 共鳴トンネルダイオードを用いたΔΣ変調器のノイズシェーピング
- C-10-3 共鳴トンネル論理素子を用いたΔΣ型ADコンバータ
- C-10-2 共鳴トンネル論理ゲートMOBILEの回路パラメータ設計指針
- パターニングした金属触媒を用いたカーボンナノチューブの位置制御成長とFETの作製(AWAD2003 : 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショツプ)
- パターニングした金属触媒を用いたカーボンナノチューブの位置制御成長とFETの作製(AWAD2003(先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ))
- カーボンナノチューブの位置制御成長と電界効果型トランジスタの作製
- カーボンナノチューブの位置制御成長と電界効果型トランジスタの作製
- カーボンナノチューブ電界効果型トランジスタの電気的特性に及ぼす界面特性の影響とその制御(ナノデバイスと回路応用,機能ナノデバイス及び関連技術)
- カーボンナノチューブ電界効果型トランジスタの電気的特性に及ぼす界面特性の影響とその制御(ナノデバイスと回路応用,機能ナノデバイス及び関連技術)
- 光学的手法を用いたカーボンナノチューブFETの解析(量子効果デバイス及び関連技術)
- 光学的手法を用いたカーボンナノチューブFETの解析(量子効果デバイス及び関連技術)
- AlGaN/GaN HEMTにおけるキャリア輸送と電流コラプス(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
- AlGaN/GaN HEMT におけるキャリア輸送と電流コラプス(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
- 走査型プローブ顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの評価・解析(機能ナノデバイス及び関連技術)
- 走査型プローブ顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの評価・解析(機能ナノデバイス及び関連技術)
- CNFETにおけるhigh-kゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響(機能ナノデバイス及び関連技術)
- CNFETにおけるhigh-kゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響(機能ナノデバイス及び関連技術)
- CNFETにおける high-k ゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響
- CNFETにおける high-k ゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響
- カーボンナノチューブ電界効果型トランジスタの金属電極における大気の影響
- 簡易転写プロセスによるカーボンナノチューブ薄膜パターン形成とタッチセンサ応用(機能ナノデバイス及び関連技術)
- 高速なフレキソ印刷技術を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの作製(機能ナノデバイス及び関連技術)
- 高速なフレキソ印刷技術を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの作製(機能ナノデバイス及び関連技術)