CNFETにおける high-k ゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響

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概要

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• 2012-01-31

著者

• 鈴木 耕佑

  名古屋大学工学研究科

• 水谷 孝

  名古屋大学

• 岸本 茂

  名古屋大学

• 大野 雄高

  名古屋大学大学院工学研究科

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