西浦 政人 | 名古屋大学工学部
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概要
関連著者
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大野 雄高
名大工
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大野 雄高
名古屋大学大学院工学研究科量子工学専攻
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岸本 茂
名古屋大学工学研究科
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水谷 孝
名古屋大学工学研究科
-
前澤 宏一
名古屋大学大学院工学研究科
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大坂 次郎
名古屋大学工学部
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西浦 政人
名古屋大学工学部
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沖野 徹
名古屋大学工学部
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前澤 宏一
富山大学大学院理工学研究部
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水谷 孝
名古屋大学
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岸本 茂
名古屋大学
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大野 雄高
名古屋大学大学院工学研究科
著作論文
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- 容量DLTS法によるAlGaN中のディープレベルの評価(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)