小野寺 貴弘 | 日本電気株式会社システムデバイス研究所
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概要
関連著者
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小野寺 貴弘
NECエレクトロニクスLSI基礎開発研究所
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植木 誠
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原田 恵充
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原田 恵充
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植木 誠
日本電気株式会杜
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植木 誠
東北大学:(現)新日本製鐵(株)
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多田 宗弘
NECデバイスプラットフォーム研究所
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大竹 浩人
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NECエレクトロニクスLSI基礎開発研究所
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NECエレクトロニクスLSI基礎開発研究所
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小林 一雄
株式会社 岡本工作機械製作所
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小林 一雄
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左光 大和
(株)岡本工作機械製作所
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山本 栄一
(株)岡本工作機械製作所
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田中 潔
(株)岡本工作機械製作所
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佐々木 直樹
(株)岡本工作機械製作所
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栗野 元一郎
(株)岡本工作機械製作所
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川原 潤
Necエレクトロニクス
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小林 一雄
岡本工作機械製作所
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斎藤 忍
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田上 政由
Necエレクトロニクス株式会社lsi基礎開発研究所
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川原 潤
ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部
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林 喜宏
ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部
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井上 尚也
大阪府立大学工学部情報工学科
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山本 博規
NECエレクトロニクスLSI基礎開発研究所
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成広 充
NECシステムデバイス研究所
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阿部 真理
NECシステムデバイス研究所
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成廣 充
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日本電気株式会社システムデバイス研究所
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日本電気株式会社システムデバイス研究所
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新井 浩一
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NECエレクトロニクス株式会社
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NECシステムデバイス研究所
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山本 博規
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半導体MIRAI-ASET
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廣井 政幸
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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吉木 政行
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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木下 啓蔵
半導体先端テクノロジーズ
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井上 尚也
ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部
著作論文
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- インテリジェントCMP(PNX200 : PASCAL)の開発 第2報 基本構成
- インテリジェントCMP(PNX200 : PASCAL)の開発 第1報 基本概念
- Low-kキャップ(k=3.1)を用いた低コスト・高性能Cu配線(k_=2.75)技術(配線・実装技術と関連材料技術)
- プラズマ重合法によるLow-k有機高分子膜成長技術とその応用( : 低誘電率層間膜及び配線技術)
- 表面改質エッチング技術を用いた高信頼性Cu/Low-k配線
- Ti挿入による太幅銅配線のストレス誘起ボイドの抑制