C-12-66 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法(C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 2010-03-02
著者
-
中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
-
中前 幸治
阪大院情報科学
-
三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
-
二川 清
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
-
二川 清
Necエレクトロニクス(株)
-
三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科
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