超LSI生産システムファイナルテスト工程のスケジューリングに与える特急品の影響
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概要
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超LSI生産システムのファイナルテスト工程では、多様なパッケージに入ったLSIに対して、高温、常温、低温テスト等の様々なテストが行なわれる。そのためにジグ交換が頻繁に生じ、処理時間(TAT)が長くなり、テスト効率が劣化する。また、できるだけ早い処理が要求される特急品と呼ばれる製品がある。このようなファイナルテスト工程のTATの短縮、テストコストの低減には、効率的なスケジューリングが必要不可欠である。 先に我々は、LSI生産システムの流れ及び各工程をモデル化し、そのシミュレーション手法を提案した。そして、ファイナルテスト工程の多品種少量生産モデルのコストおよび平均処理時間(TAT)の評価、ロット処埋優先規則を用いたスケジューリングの評価、スケジューリング及びコストに与えるロット到着分布の影響について報告を行なった。 本報告では、特急品のスケジューリングに与える影響について評価する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
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