小ロットサイズ300mmウェーハのLSIファイナルテスト工程の効率とコストへの影響

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1998-03-06

著者

• 中前 幸治

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 藤岡 弘

  大阪大学大学院 工学研究科

• 近村 晶央

  大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻

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