レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡法
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概要
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レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡法の概要を紹介する。この手法は、CADレイアウトデータから逐次的に抽出した回路接続情報を参照し、EBテストシステムを用いて、トップレベルセルからトランジスタレベル回路まで階層的にLSI内部の故障信号を追跡する。VDECで試作することを目的に当研究室で設計したマイクロプロセッサを、本手法を用いて故障追跡した事例を示す。
- 2000-11-23
著者
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