故障シミュレーションとEBテスタテストパターン系列を利用した組合せ回路のEBテスタ故障位置特定アルゴリズム (テストと設計検証論文特集)
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概要
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故障シミュレーションとEBテスタテストパターン系列を利用した組合せ回路のEBテスタ故障位置特定アルゴリズムが提案されている. このアルゴリズムでは, まず, LSIテスタで故障が検出されたテストパターンについて同時故障シミュレーションを行い, 故障が検出された外部出力及び各内部信号線の故障リストを得る. 次に外部出力の故障候補リストに掲載されている故障候補信号線群の中から, 最大に故障候補を絞り込めることが期待できる故障候補信号線を各内部信号線の故障リストを利用して求め, これをEBテスタプロービング点に選択する. 次に, 故障が検出されたテストパターンにEBテスタ波形測定時間を増加させない範囲でランダムテストパターン生成による複数のテスタパターンを加える. このEBテスタテストパターン系列を用いて, 選択されたブロービング点の波形測定を, EBテスタにより行う. この測定結果に基づいて故障候補信号線群を絞り込む。この際に追加した複数のテストパターンについての故障シミュレーション結果が利用される. これらの操作を故障候補が一つに絞り込まれるまで繰り返す。この提案したアルゴリズムを, ISCAS'85ベンチマーク回路8種類に適用した結果, よく用いられるガイデッドプローブ法と比較して, プロービング点数が約1/5に削減できた. 一方, 本アルゴリズムの採用で新たに生じた計算機処理時間は, 主に同時故障シミュレーション時間によって決まり, ゲート数が4000程度の回路規模であっても約50秒であり, 1波形測定時間より短い. この時間を決める同時故障シミュレーションは, 最初に1度行うのみである。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
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