IDDQを用いた, 多様なリーク電流を有するCMOSLSIの故障診断 (テストと設計検証論文特集)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
IDDQ (Quiescent VDD Supply Current)異常現象を用いた, 多様なリーク故障を有するCMOSLSIの故障ブロックを抽出する診断技術について報告する. 診断に用いる情報はLSIを構成する各ブロックの, テストベクタごとの入力論理情報と, IDDQ異常を示すテストベクタ番号情報である. 多様なリーク故障に対して, 正常状態でも電源間貫通電流を伴うLSIの診断のために故障品と正常品のIDDQ値の差を算出し, 複数のIDDQ異常値を有するLSIの診断のためにIDDQ異常値を値ごとに分離し, それらのテストベクタ番号を用いて診断を行う. 診断アルゴリズムはLSIを構成する各ブロックごとに「IDDQ異常を示す入力論理と同じ論理が正常なIDDQ値を有する入力論理に存在するか調査する」方式であり, 存在すればこのブロックは正常また, 存在しなければブロックは物理故障内蔵の疑いありと判定する. この診断方式はIDDQ異常を伴う多様な故障を有するブロックの検出を可能とする.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
関連論文
- D-7-5 医学応用3次元眼球運動シミュレータ
- 知識ベース構築による光学顕微鏡観測画像からの標準セル設計VLSI回路認識
- VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の評価
- 超LSIプロセスシミュレーションによるパーティクルの歩留まりに与える影響の評価
- DUT配線パターン光学顕微鏡観測画像からの知識ベース構築による回路抽出
- LSI生産システムにおけるファイナルテスト工程の評価(II)
- C-12-8 BGAパッケージのはんだボール検査システム
- C-12-4 半導体デバイス外観検査装置の照明方式検討用CGシステム
- 9)ピコ秒パルスゲートの縦方向エミッタンス(テレビジョン電子装置研究会(第62回))
- LSI 観察・評価装置
- C-12-2 VLSIテスタビリティ改善のための内部電流テストポイント導入
- D-11-129 弛緩法を用いたLSI微細形状露光パターンSEM像とCADレイアウトのパターンマッチング(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
- D-11-118 LSI断面SEM観測画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
- 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 電子ビ-ムテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- 電子ビ-ムテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- 少量多品種ロジックLSIの実製造デバイスデータを用いたウェーハテスト工程環境の評価 : 同時測定可能LSIテスタ環境とロット割付アルゴリズム(半導体材料・デバイス)
- C-12-1 人の特性を考慮できる VLSI テスト工程シミュレータ
- LSIテスティングの最近の動向
- レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
- レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
- EBテストシステムVLSI故障追跡支援のためのレイアウトからのスケマティック自動生成
- メモリフェイルビッドマップの故障パターン分類・原因類推システム
- メモリフェイルビットマップの故障パターン分類・原因類推システム
- C-12-1 メモリフェイルビットマップの故障パターン分類及び分布推定システム
- 超LSI生産システムファイナルテスト工程のスケジューリングシミュレーションによるロット処理優先規則の評価
- 第10回信頼性シンポジウムの報告
- C-12-5 LSI製造プロセスシミュレータによる歩留まり低下要因早期検出法の検討
- C-12-28 DRAMリペア構成とアナリシスの評価
- C-12-3 EB・FIB統合化テストシステムにおけるFIB加速電圧の低電圧化
- C-12-4 LSI断面SEM観測画像の微細形状計測アルゴリズム
- EB・FIB統合化テストシステム(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
- EB・FIB統合化テストシステム(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
- C-12-3 CADレイアウトを考慮した組合せ回路のEBテスタ遅延故障位置特定アルゴリズム
- レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡法
- IDDQを用いた, 多様なリーク電流を有するCMOSLSIの故障診断 (テストと設計検証論文特集)
- C-12-6 ウェーハテスト工程におけるウェーハ管理コード認識システム
- C-12-9 IDDQ異常現象を用いたLogic回路の歩留り向上の為の欠陥診断技術
- Killer欠陥抽出の為の診断領域の定義 : IDDQ異常現象を用いた故障診断
- IDDQ異常現象を利用した配線ショート個所検出手法
- ハイブリッドGAによるCADレイアウトとDUT配線パターン観測画像とのパターンマッチング
- LSI生産システムにおけるテスト工程の短TAT戦略とコスト評価
- 小ロットサイズ300mmウェーハのLSIファイナルテスト工程の効率とコストへの影響
- 超LSI生産システムファイナルテスト工程のスケジューリングに与える特急品の影響
- 超LSIファイナルテスト工程のスケジューリング及びコストに与えるロット到着分布の影響
- 超LSI生産システムファイナルテスト工程のロット処理優先規則スケジューリングの評価
- 故障シミュレーションとEBテスタテストパターン系列を利用した組合せ回路のEBテスタ故障位置特定アルゴリズム (テストと設計検証論文特集)
- 故障シミュレーションを利用したEBテスタVLSI故障追跡アルゴリズム
- EB・FIB統合化テストシステムの開発
- EB・FIB統合化テストシステムの開発
- LSI生産システムにおけるウェーハテスト工程の評価
- EBテスタ観測画像からの動信号領域抽出とその擬似カラー表示
- C-12-7 LSIパッケージリード端子自動検査システム
- C-12-9 VLSIウェーハ製造工程における検査・修正プロセスのモデル化と経済性評価
- D-7-10 ビデオカメラ画像を用いた眼球運動追跡システムのための頭部運動検出
- レイアウト解析によるEBテスティング容易化テストパッド配置優先順位の決定
- C-12-4 VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の経済性評価
- EBテストシステムにおける画像ベースの多重故障対応自動故障診断法