DUT配線パターン光学顕微鏡観測画像からの知識ベース構築による回路抽出
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概要
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CADリンク電子ビームテストシステムではCADデータベースの利用が前提であるが、市販されたVLSIでは、すべてのCADデータが消失してしまっている場合も生じている。このような場合の故障診断支援システムの構築を目的として、標準セルのレイアウトデータから知識ベースを構築することによる回路認識手法を報告した。今回、対象をゲートアレイ設計のCMOS回路とし、ゲートアレイ設計の一般的な知識から知識ベースを構築し、回路抽出を試みたので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
藤岡 弘
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
大西 篤志
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
中前 幸台
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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