EBテストシステムVLSI故障追跡支援のためのレイアウトからのスケマティック自動生成
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概要
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EBテストシステムにおける、CADレイアウトのみを用いたVLSIの故障追跡法として、我々はレイアウト辞書を用いた階層的故障追跡法を提案した。レイアウト辞書には、セル名、セルの回路機能(INVERTER,NAND,NORなど)、セルの入出力配線に関する位置情報、CONTACT情報などが含まれている。今回、レイアウト辞書を用いたEBテストシステムによるVLSI故障追跡を支援するための階層的スケマティック自動生成システムを構築したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
-
藤岡 弘
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
松原 豊
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
三甫 克介
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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