知識ベース構築による光学顕微鏡観測画像からの標準セル設計VLSI回路認識
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概要
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VLSI観測画像から回路ブロック間の配線や機能等の回路情報を得る, いわゆる "逆設計" の考え方に基づく故障診断支援システムの構築を目的とした, VLSIチップの光学顕微鏡観測画像を用いた回路認識システムを提案している. このシステムは, 基本セルレイアウトとVLSIチップ光学顕微鏡観測画像から構築した知識ベースと, 知識ベースを用いた観測画像からの回路認識から構成されている. 対象は, 2層Al配線の標準セル設計のCMOS VLSI回路ブロックである. 知識ベースは, セルライブラリー, ポリゴンライブラリーおよびルールベースから構成されている. ポリゴンライブラリーのデータは, 長方形ブロックの集合として記述される. 観測画像から抽出された配線パターンも, 長方形ブロック集合として記述される. この長方形ブロックには, 第1層Al配線と第2層Al配線を区別するために観測画像のエッジの明瞭度を示すエッジ強度情報が付加されている. 標準セル設計のセル列領域で回路機能の推定が, 配線チャネル領域でセル間の接続情報が抽出され, 回路認識が行われる. この手法をCMOS LSIの光学顕微鏡観測画像に適用し, その有効性が示されている.
- 1997-09-25
著者
-
中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
-
藤岡 弘
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
横山 真司
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻:四国電力(株)
-
大西 篤志
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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