量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
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概要
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MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセルオートマトン(QCA: quantum-dot celluar automata)が注目されている。本報告では、QCAによるプログラマブルロジックアレイ(PLA: Programmable Logic Array)について、シミュレータを用いて、信頼性の評価を行っている。欠陥種としては量子ドットセルが本来の位置から移動する欠陥(シフト)を仮定し、欠陥率、シフト量、温度をパラメータとし、評価を行っている。この結果、配線の交差部が信頼性の低下をもたらしていることを示す。信頼性を改善する為、配線交差部のレイアウトを改善し、これにより、種々の条件下で信頼性が向上することを示す。
- 2011-05-06
著者
-
中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
-
中前 幸治
阪大院情報科学
-
三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
-
野津 孝行
大阪大学大学院情報科学研究科
-
三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科
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