EBテストシステムにおける画像ベースの多重故障対応自動故障診断法
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概要
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CADデータを利用した画像ベースの故障診断法である区分的動的故障伝搬抽出アルゴリズムを多重故障の追跡が可能なように拡張している.拡張したアルゴリズムは,デバイスの外部出力ピンで観測された故障が単一の故障源によって生じているものとして故障追跡する深さ優先探索と,特定した故障を経路をさかのぼって伝搬させる故障伝搬操作からなる.深さ優先探索では,CADデータを利用して故障追跡に必要な観測領域,観測時間範囲を決定し,故障を信号の上流方向を優先して追跡する.故障伝搬操作は,特定した故障より故障信号を下流に伝搬させ,追跡途中で観測された故障の検証を行う.この際,深さ優先探索で観測された信号が有効に利用されている.追跡途中で観測された故障が特定した故障が原因でない場合は,その故障を追跡開始点として改めて深さ優先故障追跡を繰り返す.このアルゴリズムを多重故障しているCMOS LSIに適用した結果,本アルゴリズムを用いることにより,従来の単一故障追跡アルゴリズムを複数回用いる場合に比べて,故障追跡時間が約半分に短縮されることがわかった.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-25
著者
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