EB テストシステムにおける画像ベースの自動故障診断法

スポンサーリンク

概要

論文の詳細を見る
LSIのテスト効率を高める新しい技術として、計算機援用設計(CAD)のデータベースとリンクした電子ビームテストシステムが注目されている。このシステムにおける論理診断手法として、動的故障伝搬抽出法(DFI:Dynamic fault imaging)が報告されている。先に我々は、DFIの欠点である長い診断時間と蓄積・保存データ量を改善するためにCADデータを有効に利用した区分的なDFI法を提案し、CMOS LSIの内部回路ブロックに適用し、この手法が有効であることを示した。この画像ベースの自動故障診断法では、区分的な観測レイアウト領域を、故障追跡に関係する配線を効率良く含むように選択することがポイントとなる。今回、このような故障追跡のための観測レイアウト領域の自動決定を行なったので報告する。
一般社団法人電子情報通信学会の論文
1994-09-26

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク