LSI生産システムにおけるファイナルテスト工程の評価(II)
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概要
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LSIの集積化技術の進歩に伴いテストの困難性が増し、テストコストが製造コストに占める割合が急激に増大している。先に我々は、LSI生産システムの流れ及び各工程をモデル化し、そのシミュレーション手法を提案した。これを、単品種の生産システムのコスト評価、ウェーハテスト工程のコストを最適にするLSIテスタ台数の評価ならびにそのコスト評価、ファイナルテスト工程の多品種少量生産モデルのコスト評価および平均TATの評価を行なった。今回、数百品種の製品モデルのファイナルテスト工程に適用し、一月当たりの生産計画ロット数に必要な装置台数の最適化を図り、そのコスト評価を行なったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
-
藤岡 弘
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
東 吾紀男
大阪大学 工学部 情報システム工学科
-
東 吾紀男
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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