量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 (信頼性)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2011-05-13

著者

• 中前 幸治

  阪大院情報科学

関連論文

• C-12-66 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法(C-12.集積回路,一般セッション)
• C-12-33 QCA-PLAの耐欠陥性向上(C-12.集積回路,一般セッション)
• G-014 電子顕微鏡トモグラフィのためのマーカーフリーアライメント手法の検討(G分野:生体情報科学,一般論文)
• CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
• C-12-4 レイアウト依存バラつきを考慮したVLSI故障診断法の検討(C-12.集積回路ACD,一般講演)
• C-12-3 弛緩法マッチングと散布図解析によるVLSI自動欠陥検出の精度向上(C-12.集積回路ACD,一般講演)
• G-023 平衡神経・眼球運動シミュレータを用いた良性発作性頭位めまい症の治療支援(G分野:生体情報科学)
• 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• D-11-127 SEM画像におけるLSI微細構造計測のためのスケールスペース理論を用いた境界抽出(D-11.画像工学D(画像処理・計測),一般講演)
• D-11-129 弛緩法を用いたLSI微細形状露光パターンSEM像とCADレイアウトのパターンマッチング(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
• D-11-118 LSI断面SEM観測画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
• 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 電子ビ-ムテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• 電子ビ-ムテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• 少量多品種ロジックLSIの実製造デバイスデータを用いたウェーハテスト工程環境の評価 : 同時測定可能LSIテスタ環境とロット割付アルゴリズム(半導体材料・デバイス)
• C-12-1 人の特性を考慮できる VLSI テスト工程シミュレータ
• LSIテスティングの最近の動向
• レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
• レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
• H-043 試料傾斜角の異なる複数枚SEM画像からのLSI三次元形状推定(H分野:画像認識・メディア理解,一般論文)
• 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 (信頼性)
• レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
• 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
• テラヘルツ光放射を用いたLSI故障解析
• B-19-28 人の健康モニタリングのためのリアルタイム圧縮センシング(B-19.ユビキタス・センサネットワーク,一般セッション)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク