三浦 克介 | 大阪大学大学院情報科学研究科
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概要
関連著者
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中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
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三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科
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中前 幸治
阪大院情報科学
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藤岡 弘
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
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藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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藤岡 弘
福井工業大学 経営情報学科
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二川 清
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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二川 清
Necエレクトロニクス(株)
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御堂 義博
大阪大学大学院情報科学研究科
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御堂 義博
大阪大学情報科学研究科
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御堂 義博
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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野津 孝行
大阪大学大学院情報科学研究科
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山下 将嗣
理化学研究所
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中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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野津 孝行
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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二宮 幸夫
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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岡本 武司
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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藤田 将史
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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織田 隆之
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
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小畠 智幸
大阪大学大学院 情報科学研究科 情報システム工学専攻
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山下 将嗣
理化学研究所基幹研究所先端光科学研究領域
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松本 徹
浜松ホトニクス株式会社システム事業部第3設計部
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松本 徹
浜松ホトニクス株式会社 システム事業部 第3設計部
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松本 徹
浜松ホトニクス
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藤岡 弘
大阪大学大学院情報科学研究科
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蝶野 尋紀
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
著作論文
- C-12-66 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-33 QCA-PLAの耐欠陥性向上(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-4 レイアウト依存バラつきを考慮したVLSI故障診断法の検討(C-12.集積回路ACD,一般講演)
- C-12-3 弛緩法マッチングと散布図解析によるVLSI自動欠陥検出の精度向上(C-12.集積回路ACD,一般講演)
- D-11-129 弛緩法を用いたLSI微細形状露光パターンSEM像とCADレイアウトのパターンマッチング(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
- 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
- レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡
- C-12-3 EB・FIB統合化テストシステムにおけるFIB加速電圧の低電圧化
- C-12-4 LSI断面SEM観測画像の微細形状計測アルゴリズム
- C-12-6 ウェーハテスト工程におけるウェーハ管理コード認識システム
- レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
- 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
- B-19-28 人の健康モニタリングのためのリアルタイム圧縮センシング(B-19.ユビキタス・センサネットワーク,一般セッション)