二川 清 | Necエレクトロニクス(株)

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概要

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関連著者

• 二川 清

  Necエレクトロニクス(株)

• 二川 清

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 二川 清

  NECエレクトロニクス

• 二川 清

  Nec

• 山下 将嗣

  理化学研究所

• 斗内 政吉

  大阪大学レーザーエネルギー学研究センター

• Tonouchi Masayoshi

  Powersource And Device Development Daihen Corporation

• 大谷 知行

  理化学研究所

• Tani M

  Research Center For Superconductor Photonics Osaka University

• 大谷 知行

  理研

• 大谷 知行

  理化学研究所 テラヘルツイメージング研究チーム

• 川瀬 晃道

  理化学研究所

• 中前 幸治

  阪大院情報科学

• 三浦 克介

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 大谷 知行

  理化学研究所 宇宙放射線研究室

• 川瀬 晃道

  名古屋大学

• 中前 幸治

  大阪大学大学院情報科学研究科

• OTANI Chiko

  Terahertz Sensing and Imaging Laboratory

• 御堂 義博

  大阪大学情報科学研究科

• 松本 徹

  浜松ホトニクス株式会社システム事業部第3設計部

• 松本 徹

  浜松ホトニクス株式会社 システム事業部 第3設計部

• 松本 徹

  浜松ホトニクス

• 三浦 克介

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 川瀬 晃道

  名古屋大学 エコトピア科学研究所

• 斗内 政吉

  大阪大学 レーザーエネルギー学研究センター

• 中前 幸治

  大阪大学 工学部 情報システム工学科

• 二川 清

  Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部

• 酒井 哲哉

  Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部

• 井上 彰二

  情報技術開発半導体

• 三浦 克介

  阪大院情報科学

• 三浦 克介

  大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻

• 御堂 義博

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 中前 幸治

  大阪大学情報科学研究科

• 斗内 政吉

  阪大

• 酒井 哲哉

  Necエレクトロニクス

• 御堂 義博

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 山下 将嗣

  理化学研究所基幹研究所先端光科学研究領域

• 中前 幸治

  大阪大学 大学院情報科学研究科

• 三浦 克介

  大阪大学情報科学研究科

• 二川 清

  沢工業大学工学研究科

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著作論文

• レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI故障解析への応用
• C-12-66 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法(C-12.集積回路,一般セッション)
• レーザーテラヘルツ放射顕微鏡のLSI故障解析への応用
• CS-11-3 レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡とLSI不良解析への応用(CS-11. ミリ波・テラヘルツ波技術の新展開, エレクトロニクス1)
• レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の開発とLSI故障解析への応用 (特集:最近のテラヘルツ技術の動向)
• 3-4 不良作り込みICチップを用いた走査レーザSQUID顕微鏡での故障個所絞り込み可能性の検討(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
• LSIにおける故障解析技術
• レーザービーム加熱を利用した半導体デバイスの解析手法 : OBIRCH法の現状と今後
• CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
• LSI故障解析手法における最近10年の進展(「信頼性・保全性・安全性の事例:材料・部品・デバイス編」〜信頼性ハンドブック出版から10年を経て〜)
• 光を用いたLSIの故障解析技術(故障物理と信頼性)
• 走査レーザSQUID顕微鏡によるLSIの検査・故障解析
• 2.3ウェハ裏面からの観測が可能なレーザSQUID顕微鏡(セッション2「故障解析2」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
• LSIの故障解析技術の最近の動向
• LSI故障解析における光の復権
• 招待講演 レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用--電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 (信頼性)
• レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
• テラヘルツ光放射を用いたLSI故障解析

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