井上 彰二 | 情報技術開発半導体

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概要

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• 同名の論文著者
• 情報技術開発半導体の論文著者

関連著者

• 二川 清

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 井上 彰二

  情報技術開発半導体

• 二川 清

  日本電気(株)necエレクトロンデバイス

• 中前 幸治

  阪大院情報科学

• 二川 清

  NECエレクトロニクス

• 三浦 克介

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 二川 清

  Necエレクトロニクス(株)

• 三浦 克介

  阪大院情報科学

• 二川 清

  Nec 材料部品分析評価セ

著作論文

• CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• レーザビームとSQUID磁束計を組み合わせた新しい非破壊・非接触チップ検査・解析技術 : 走査レーザSQUID顕微鏡
• レーザビームとSQUID磁束計を組み合わせた新しい非破壊・非接触チップ検査・解析技術 : 走査レーザSQUID顕微鏡
• OBIRCHとTEMによる極薄高低抵抗箇所の検出と解析--OBIRCHによる非破壊検出とTEMによる構造解析 (LSIの評価・解析技術特集) -- (製造プロセス評価解析技術)
• IR-OBIRCH法によるチップ裏面からの観測--Iddq経路およびその物理的原因欠陥の非破壊検出 (LSIの評価・解析技術特集) -- (製造プロセス評価解析技術)
• レ-ザビ-ム照射加熱を用いたLSIの故障解析--感度向上,選択走査および近赤外線利用の試み (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)

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