二川 清 | 日本電気(株)necエレクトロンデバイス

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概要

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関連著者

• 二川 清

  日本電気(株)necエレクトロンデバイス

• 鈴木 和幸

  電気通信大学

• 鈴木 和幸

  電気通信大学システム工学科

• 山本 渉

  電気通信大学システム工学科

• 山本 渉

  電気通信大学

• 二川 清

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 金子 和巳

  電気通信大学

• 高際 竜一

  電気通信大学

• 井上 彰二

  情報技術開発半導体

• 高際 竜一

  NTTデータソリューション(株)

• 鈴木 和幸

  東海大学情報数理学科

• 益田 昭彦

  帝京科学大学理工学部

• 益田 昭彦

  日本電気(株)cs品質推進部

• 鈴木 和幸

  東海大学理学部情報数理学科

• 広瀬 民雄

  松下通信工業

• 山 悟

  富士ゼロックス(株)

• 二川 清

  日本電機(株)

• 産田 啓明

  松下通信工業(株)

• 増田 俊寿

  日本ビクター(株)

• 広瀬 民雄

  松下通信工業(株) 品質管理部

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著作論文

• [4-3]LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
• LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(日本信頼性学会第9回研究発表会)
• 日米の信頼性技術の比較 : 6種類の文献調査に基づく検討( 今アメリカでは)
• レーザビームとSQUID磁束計を組み合わせた新しい非破壊・非接触チップ検査・解析技術 : 走査レーザSQUID顕微鏡
• レーザビームとSQUID磁束計を組み合わせた新しい非破壊・非接触チップ検査・解析技術 : 走査レーザSQUID顕微鏡

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