山本 渉 | 電気通信大学システム工学科
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概要
関連著者
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山本 渉
電気通信大学システム工学科
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山本 渉
電気通信大学
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鈴木 和幸
電気通信大学システム工学科
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鈴木 和幸
電気通信大学
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山本 渉
電気通信大学大学院情報理工学研究科・総合情報学専攻
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鈴木 和幸
電気通信大学大学院電気通信学研究科
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鈴木 和幸
電気通信大学大学院情報システム学研究科社会知能情報学専攻
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鶴田 浩巳
NECエレクトロニクス
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王 恋華
電気通信大学
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安田 裕和
電気通信大学 システム工学科
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加茂 隆康
電気通信大学
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竹内 秀明
電気通信大学大学院情報システム学研究科
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狩野 紀昭
東京理科大学
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狩野 紀昭
東京理科大学 工学部 経営工学科
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椛田 和雄
日本電気(株)
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岩本 大輔
(株)CSK
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高際 竜一
NTTデータソリューション(株)
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岩本 大輔
電気通信大学電子情報学科鈴木和幸研究室
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山本 渉
電気通信大学大学院情報理工学研究科
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金子 和巳
電気通信大学
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石崎 文高
電気通信大学
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二川 清
日本電気(株)necエレクトロンデバイス
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高際 竜一
電気通信大学
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井上 英俊
東京理科大学 工学部 経営工学科
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寺島 勇樹
電気通信大学
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鶴田 浩巳
日本電気
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鶴田 浩巳
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイス半導体生産技術本部
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椛田 和雄
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイス半導体生産技術本部
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Suzuki Kazuyuki
Univ. Electro‐communications Tokyo Jpn
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田中 健次
電気通信大学大学院
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熊崎 千晴
電気通信大学大学院情報理工学研究科総合情報学専攻
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田中 健次
電気通信大学大学院情報システム学研究科
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李 〓〓
電気通信大学大学院情報システム学研究科
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吉川 拓児
電気通信大学大学院電気通信学研究科システム工学専攻
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坂田 理彦
三菱電機(株)
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Md.rezaul Karim
電気通信大学
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飯島 朋子
電気通信大学
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二川 清
日本電機(株)
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高橋 郁
電気通信大学
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志村 典孝
電気通信大学 システム工学科
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尾山 壮一
(株)日立製作所
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香川 恭介
電気通信大学
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畑山 裕明
電気通信大学大学院 電気通信学研究科
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鶴田 浩己
日本電気
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椛田 和雄
NECエレクトロニクス
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熊崎 千晴
電気通信大学
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鈴木 和幸
電気通信大学大学院
著作論文
- (社)日本品質管理学会 第92回研究発表会(ルポルタージュ)
- 4-3 加速寿命試験データに基づくDVDの寿命推定法とその考察(セッション4「理論,一般」)
- 5-2 故障データのみ廃棄情報を考慮したフィールド寿命データの解析(セッション5「安全性,リスク,データ収集,解析」)
- 6-4 保証期間中の故障データベースのみに基づく信頼性寿命特性の推定(セッション6「システムの信頼性、保全性、ライフサイクルおよびソフトウェア面(2)」)
- 3-6 火災予防のための効果的な査察実施基準に関する一考察(2. 研究発表会の要旨)((社)日本品質管理学会 第34回年次大会)
- [4-3]LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
- LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(日本信頼性学会第9回研究発表会)
- (社)日本品質管理学会第92回研究発表会
- 1.2 不良品群を考慮した市場信頼性データ解析(セッション1「理論・データ解析」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
- 1-2 不良品群を考慮した市場信頼性データ解析
- フィールド寿命データに基づく季節変動を考慮した寿命推定
- 順序尺度をもつ正方分割表に基づく顧客満足度データの解析
- 5-5 行と列が同じ順序尺度をもつ正方分割表における"対角性"と"対称性"の評価についての研究 : 顧客満足度調査データを対称として(第64回研究発表会)
- 5-6 質問紙調査のデータ解析へ数量化III類ならびに3次元分析法を適用するための若干の考察(第64回研究発表会)
- 6-5 二母数寿命分布の下での二値観測寿命試験の計画についての一考察(2.研究発表会の要旨,(社)日本品質管理学会 第36回年次大会)
- 3-5 ワイブル分布の二値観測寿命試験における群逐次計画の試み(4. 研究発表会の要旨, (社)日本品質管理学会 第77回研究発表会)
- [4-2] Parametric Estimation of Lifetime Distribution based on Warranty Data(理論・安全性・システム信頼性, 第13回春季信頼性シンポジウム報告)
- [3-4] ワイブル確率紙による母数推定の一再考察(理論・一般, 第13回春季信頼性シンポジウム報告)
- 3-4 ワイブル確率紙による母数推定の一再考察(理論・一般,セッション3,第13回春季信頼性シンポジウム)
- ワイブル分布からの二値観測寿命試験のための逐次D-最適試験計画
- エレクトロマイグレーションによる早期故障の分布に関する一考察
- 3-4 二値データに基づく信頼性逐次寿命試験計画に関する一考察(REAJ第10回研究発表会)
- 3-2 スクリーニングデータと市場データを併用した信頼性寿命評価(REAJ第10回研究発表会)
- 3-2 半導体製造工程のデータマイニングにおける次元縮約に関する一考察(セッション3「ハードウェア面」,第14回信頼性シンポジウム報文集)
- [5-1]二値データに基づくワイブル分布の母数推定のための逐次寿命試験計画 : 2母数が未知な場合(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
- 2-8 半導体ウエハーの品質向上へのデータマイニングと統計的解析(創立30周年記念第66回研究発表会)
- 2-7 半導体ウエハーの不良パターンとその解析 : 集中不良クラスターへの発生確率の導入(創立30周年記念第66回研究発表会)
- 二値データに基づくワイブル分布の母数推定のための逐次寿命試験計画 : 2母数が未知な場合(日本信頼性学会第9回研究発表会)
- 4.3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム報告)
- 4-4 Analysis of Marginal Count Failure Data with Change-point(第30回年次大会)
- Sess.3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム)
- 3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析