6-5 二母数寿命分布の下での二値観測寿命試験の計画についての一考察(2.研究発表会の要旨,(社)日本品質管理学会 第36回年次大会)
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概要
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- 社団法人日本品質管理学会の論文
- 2007-01-15
著者
-
鈴木 和幸
電気通信大学システム工学科
-
山本 渉
電気通信大学システム工学科
-
鈴木 和幸
電気通信大学
-
鈴木 和幸
電気通信大学大学院電気通信学研究科
-
山本 渉
電気通信大学
-
鈴木 和幸
電気通信大学大学院情報システム学研究科社会知能情報学専攻
-
山本 渉
電気通信大学大学院情報理工学研究科・総合情報学専攻
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