[4-3]LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)

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概要

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• 日本信頼性学会の論文
• 2001-07-25

著者

• 鈴木 和幸

  電気通信大学システム工学科

• 山本 渉

  電気通信大学システム工学科

• 鈴木 和幸

  電気通信大学

• 山本 渉

  電気通信大学

• 金子 和巳

  電気通信大学

• 二川 清

  日本電気(株)necエレクトロンデバイス

• 高際 竜一

  電気通信大学

• 二川 清

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