(社)日本品質管理学会第92回研究発表会

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概要

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• 2010-07-15

著者

• 山本 渉

  電気通信大学システム工学科

• 山本 渉

  電気通信大学大学院情報理工学研究科

関連論文

• (社)日本品質管理学会 第92回研究発表会(ルポルタージュ)
• 4-3 加速寿命試験データに基づくDVDの寿命推定法とその考察(セッション4「理論,一般」)
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• 3-6 火災予防のための効果的な査察実施基準に関する一考察(2. 研究発表会の要旨)((社)日本品質管理学会 第34回年次大会)
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• (社)日本品質管理学会第92回研究発表会
• 1.2 不良品群を考慮した市場信頼性データ解析(セッション1「理論・データ解析」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 1-2 不良品群を考慮した市場信頼性データ解析
• フィールド寿命データに基づく季節変動を考慮した寿命推定
• 順序尺度をもつ正方分割表に基づく顧客満足度データの解析
• 5-5 行と列が同じ順序尺度をもつ正方分割表における"対角性"と"対称性"の評価についての研究 : 顧客満足度調査データを対称として(第64回研究発表会)
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• [4-2] Parametric Estimation of Lifetime Distribution based on Warranty Data(理論・安全性・システム信頼性, 第13回春季信頼性シンポジウム報告)
• [3-4] ワイブル確率紙による母数推定の一再考察(理論・一般, 第13回春季信頼性シンポジウム報告)
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• エレクトロマイグレーションによる早期故障の分布に関する一考察
• 3-4 二値データに基づく信頼性逐次寿命試験計画に関する一考察(REAJ第10回研究発表会)
• 3-2 スクリーニングデータと市場データを併用した信頼性寿命評価(REAJ第10回研究発表会)
• 3-2 半導体製造工程のデータマイニングにおける次元縮約に関する一考察(セッション3「ハードウェア面」,第14回信頼性シンポジウム報文集)
• [5-1]二値データに基づくワイブル分布の母数推定のための逐次寿命試験計画 : 2母数が未知な場合(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
• 2-8 半導体ウエハーの品質向上へのデータマイニングと統計的解析(創立30周年記念第66回研究発表会)
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• 4.3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム報告)
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• Sess.3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム)
• 3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析

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