中前 幸治 | 大阪大学 大学院情報科学研究科

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概要

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• 大阪大学 大学院情報科学研究科の論文著者

関連著者

• 中前 幸治

  大阪大学 工学部 情報システム工学科

• 中前 幸治

  大阪大学 大学院情報科学研究科

• 藤岡 弘

  大阪大学 工学部 情報システム工学科

• 藤岡 弘

  福井工業大学 経営情報学科

• 中前 幸治

  阪大院情報科学

• 三浦 克介

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 三浦 克介

  大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻

• 中前 幸治

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 二川 清

  NECエレクトロニクス

• 二川 清

  大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻

• 東 吾紀男

  大阪大学 工学部 情報システム工学科

• 近久 真章

  株式会社 日立製作所 中央研究所 組込みシステム基盤研究所

• 二川 清

  Necエレクトロニクス(株)

• 近久 真章

  大阪大学 大学院 情報科学研究科 情報システム工学専攻

• 西村 宜晃

  大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻

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著作論文

• LSI生産システムにおけるファイナルテスト工程の評価
• C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
• 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• C-12-1 ウェーブレット多重解像度解析を用いたSEM観測画像からの電子ビームプロファイルの推定
• C-12-2 シミュレーション手法によるSEMウェーハ検査システムを用いた歩留り低下要因早期検出法の評価

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