3-4 不良作り込みICチップを用いた走査レーザSQUID顕微鏡での故障個所絞り込み可能性の検討(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
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概要
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- 日本信頼性学会の論文
- 2005-01-01
著者
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二川 清
NECエレクトロニクス
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二川 清
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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二川 清
Necエレクトロニクス(株)
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二川 清
Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部
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二川 清
Nec
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酒井 哲哉
Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部
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酒井 哲哉
Necエレクトロニクス
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