山下 将嗣 | 理化学研究所
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概要
関連著者
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山下 将嗣
理化学研究所
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大谷 知行
理化学研究所
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大谷 知行
理化学研究所 宇宙放射線研究室
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大谷 知行
理研
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斗内 政吉
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
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大谷 知行
理化学研究所 テラヘルツイメージング研究チーム
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川瀬 晃道
理化学研究所
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二川 清
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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二川 清
Necエレクトロニクス(株)
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Tonouchi Masayoshi
Powersource And Device Development Daihen Corporation
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川瀬 晃道
名古屋大学
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OTANI Chiko
Terahertz Sensing and Imaging Laboratory
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Tani M
Research Center For Superconductor Photonics Osaka University
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二川 清
NECエレクトロニクス
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川瀬 晃道
名古屋大学 エコトピア科学研究所
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小川 雄一
東北大学
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松本 徹
浜松ホトニクス株式会社システム事業部第3設計部
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萩行 正憲
阪大レーザー研
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萩行 正憲
大阪大学超伝導フォトニクス研究センター
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中前 幸治
阪大院情報科学
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紀和 利彦
岡山大
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林 伸一郎
理化学研究所
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三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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斗内 政吉
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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山下 将嗣
独立行政法人理化学研究所川瀬独立主幹研究ユニット
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大谷 知行
独立行政法人理化学研究所テラヘルツイメージング研究チーム
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山下 将嗣
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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御堂 義博
大阪大学情報科学研究科
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大谷 知行
独立行政法人理化学研究所
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松本 徹
浜松ホトニクス株式会社 システム事業部 第3設計部
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奥崎 秀典
山梨大学医工学総合教育部
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松本 徹
浜松ホトニクス
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萩行 正憲
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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中前 幸治
大阪大学大学院情報科学研究科
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阪井 清美
情通機構関西
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谷 正彦
福井大学遠赤外領域開発研究センター
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近藤 孝志
大阪大学超伝導フォトニクス研究センター
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阪井 清美
郵政省通信総研関西
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谷 正彦
郵政省通信総研関西
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伊藤 弘昌
理化学研究所フォトダイナミクスセンタ:東北大学電気通信研究所
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斗内 政吉
大阪大学 レーザーエネルギー学研究センター
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本 昭宏
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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伊藤 弘昌
理化学研究所
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西條 人司
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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尾内 敏彦
キヤノン(株)
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笠井 信太郎
キヤノン(株)
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加治木 康介
キヤノン(株)
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井辻 健明
キヤノン(株)
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棚橋 晃宏
理化学研究所
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米山 春子
理化学研究所
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紀和 利彦
大阪大学超伝導フォトニクス研究センター
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中島 佐知子
東京理科大学大学院工学研究科電気工学専攻
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小川 雄一
独立行政法人理化学研究所
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川瀬 晃道
独立行政法人理化学研究所
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水野 麻弥
独立行政法人理化学研究所
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鋪田 和夫
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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森川 治
大阪大学超伝導エレクトロニクス研究センター
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御堂 義博
大阪大学大学院情報科学研究科
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中前 幸治
大阪大学情報科学研究科
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斗内 政吉
阪大
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御堂 義博
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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山下 将嗣
理化学研究所基幹研究所先端光科学研究領域
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山下 将嗣
理化学研究所基幹研究所
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三浦 克介
大阪大学情報科学研究科
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二川 清
沢工業大学工学研究科
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水野 麻弥
独立行政法人情報通信研究機構電磁波計測研究所電磁環境研究室
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阪井 清美
郵政省通信総合研究所関西先端研究センター
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三浦 克介
大阪大学大学院情報科学研究科
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大谷 知行
理化学研究所基幹研究所
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水野 麻弥
独立行政法人情報通信研究機構 電磁波計測研究所 電磁環境研究室
著作論文
- レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI故障解析への応用
- CS-7-1 テラヘルツ波を用いた集積センサーチップ(CS-7.バイオメディカル分野を支える最新の光・マイクロ波技術,シンポジウムセッション)
- LTEMを用いたLSI故障解析技術の開発(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
- 6.テラヘルツ波のイメージンク応用(テラヘルツテクノロジー-未知の電磁波がもたらすブレークスルー-)
- テラヘルツ光の発生と応用
- レーザーテラヘルツ放射顕微鏡のLSI故障解析への応用
- テラヘルツ技術の新展開
- CS-11-3 レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡とLSI不良解析への応用(CS-11. ミリ波・テラヘルツ波技術の新展開, エレクトロニクス1)
- レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テラヘルツイメージングと応用
- 最近の技術から 集積回路評価用レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の開発 ("開拓"進むテラヘルツ領域)
- レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の開発とLSI故障解析への応用 (特集:最近のテラヘルツ技術の動向)
- 植物内水分の非破壊リアルタイム計測
- アンチドットを形成したYBCO薄膜における超伝導電流分布の観測
- テラヘルツ電磁波放射マッピングによる超伝導電流分布の可視化
- レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
- テラヘルツ及び赤外-紫外分光を用いた有機導電性高分子PEDOT:PSSのキャリア輸送特性評価 (電子デバイス)
- テラヘルツ光放射を用いたLSI故障解析 (特集 新しい電磁波を使った評価法)
- テラヘルツ及び赤外-紫外分光を用いた有機導電性高分子PEDOT:PSSのキャリア輸送特性評価(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
- テラヘルツ光放射を用いたLSI故障解析
- テラヘルツ及び赤外-紫外分光を用いた有機導電性高分子PEDOT:PSSのキャリア輸送特性評価