Silicon nanodevice potential investigation by low temperature Kelvin Probe Force Microscope

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概要

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• 静岡大学の論文

著者

• JABLONSKI Ryszard

  Faculty of Mechatronics, Warsaw University of Technology

• 田部 道晴

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe M

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• Tare Michiharu

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories:(present Address)research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Ichiraku Akihiro

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Anwar Miftahul

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Ichiraku Akihiro

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Jablonski Ryszard

  Faculty Of Mechatronics Warsaw University Of Technology

• 田部 道晴

  静岡大学 電子工学研究所

• Ichiraku Akihiro

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Ligowski Maciej

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

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