Simulation of Visible Light Induced Effects in a Tunnel Junction Array for Photonic Device Applications
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概要
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We have studied visible light or near-infrared irradiation effects in voltage-biased tunnel junction arrays, where each node is connected not only to neighboring nodes but to a conducting substrate through a tunnel barrier. Major assumptions used in the simulation are: (i) that the photoexcitation of electrons occurs only in the substrate and (ii) the tunnel barrier is effectively lowered for the excited electrons, resulting in a reduced tunnel resistance. As a result, it was found that a U-shaped potential profile is formed by local irradiation and the potential of the irradiated area is clamped at the lowest value. Since the currents at both terminals reflect the left and the right potential slopes in the dark areas, respectively, the irradiated position is determined by measuring the currents. These results suggest that tunnel junction arrays can be applied to photonic devices such as position sensing detectors or image processing devices.
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1999-01-30
著者
-
田部 道晴
静岡大学電子工学研究所
-
石川 靖彦
静岡大学電子工学研究所
-
TABE Michiharu
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Nuryadi Ratno
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
ISHIKAWA Yasuhiko
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Tabe Michiharu
Research Institue Of Electronics Shizuoka University
-
Nuryadi Ratno
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Nuryadi Ratno
Department Of Physics Faculty Of Science Shizuoka University
-
Nuryadi Ratno
Research Institue Of Electronics Shizuoka University
-
Nuryadi Ratno
Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn
-
Ishikawa Yasuhiko
Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information
-
Amemiya Yoshihito
Faculty Of Engineering Hokkaido University
-
Ishikawa Y
Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information
-
Ishikawa Y
Dowa Mining Co. Ltd. Tokyo
-
Ishikawa Y
Hokkaido Univ. Sapporo Jpn
-
Amemiya Yoshihito
The Department Of Electrical Engineering Hokkaido University
-
TERAO Yoichi
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
ASAHI Noboru
Faculty of Engineering, Hokkaido University
-
Terao Yoichi
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Asahi N
Faculty Of Engineering Hokkaido University
-
Asahi Noboru
Faculty Of Engineering Hokkaido University
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