Thermally-Induced Structural Changes of Ultrathin Silicon-on-Insulator Structure

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概要

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• 2000-08-28

著者

• 田部 道晴

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦

  静岡大学電子工学研究所

• TABE Michiharu

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• ISHIKAWA Yasuhiko

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Department Of Physics Faculty Of Science Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• Ishikawa Yasuhiko

  Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information

• Ishikawa Y

  Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information

• Ishikawa Y

  Dowa Mining Co. Ltd. Tokyo

• Ishikawa Y

  Department Of Electrical And Electronics Engineering Nippon Institute Of Technology

• Ishikawa Y

  Hokkaido Univ. Sapporo Jpn

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