Tare Michiharu | Research Institue Of Electronics Shizuoka University

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概要

• 同名の論文著者
• Research Institue Of Electronics Shizuoka Universityの論文著者

関連著者

• Tare Michiharu

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• 田部 道晴

  静岡大学 電子工学研究所

• 田部 道晴

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories:(present Address)research Institute Of Electronics Shizuoka University

• モラル ダニエル

  静岡大学電子工学研究所

• 水野 武志

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe M

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• 三木 早樹人

  静岡大学電子工学研究所

• 中村 竜輔

  静岡大学電子工学研究所

• ウディアルト アリエフ

  静岡大学電子工学研究所

• ハミッド エルファン

  静岡大学電子工学研究所

• アンワル ミフタフル

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe Michiharu

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• タリド ジュリ・チヤ

  静岡大学電子工学研究所

• 水田 博

  東京工業大学大学院理工学研究科

• Nuryadi Ratno

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Yokoi Kiyohito

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Moraru Daniel

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• タリド ジュリ・チャ

  静岡大学電子工学研究所

• 水田 博

  日立製作所中央研究所

• ブルハヌディン ザイナル

  静岡大学電子工学研究所

• BURHANUDIN Zainal

  Research Institue of Electronics, Shizuoka University

• Burhanudin Zainal

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• チャタリド ジュリ

  静岡大学電子工学研究所

• Ligowski Maciej

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• ブルハヌディン ザイナル

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• ノヴァック ローランド

  静岡大学電子工学研究所

• ヤブロンスキー リシャード

  Institute of Metrology and Biomedical Engineering, Warsaw Univ. of Technology

• 葛屋 陽平

  静岡大学電子工学研究所

• 水田 博

  北陸先端科学技術大学院大学

• ヤブロンスキー リシャード

  Institute Of Metrology And Biomedical Engineering Warsaw Univ. Of Technology

• JABLONSKI Ryszard

  Faculty of Mechatronics, Warsaw University of Technology

• Ikeda Hiroya

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• MORARU Daniel

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Nagata Daisuke

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• YOKOI Kiyohito

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• TABE Michiharu

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Nagata Daisuki

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• ウディアルト アリエ

  静岡大学電子工学研究所

• Nuryadi Ratno

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Ichiraku Akihiro

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Anwar Miftahul

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Graduate School of Electronic Science and Techonology, Shizuoka University

• Ichiraku Akihiro

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• 水野 武志

  静岡大学 電子工学研究所

• Jablonski Ryszard

  Faculty Of Mechatronics Warsaw University Of Technology

• Mizuno Takeshi

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• Ichiraku Akihiro

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• ウディアルト アリエフ

  静岡大学 電子工学研究所

• モラル ダニエル

  静岡大学 電子工学研究所

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著作論文

• Observation of discrete dopant potential and its application to Si single-electron devices
• Design of dopant-induced quantum dot arrays in silicon nanostructures for single-electron transfer (シリコン材料・デバイス)
• Si単一ドーパントデバイスとその特性(第18回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2010))
• Si単一ドーパントデバイスとその特性(第18回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2010))
• リンをドープした単一および多重ドットSOI-FETによるフォトン検出(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• PドープSi SOI-MOSFETにおける単電子の帯電メモリ効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• リンをドープした単一および多重ドットSOI-FETによるフォトン検出(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• PドープSi SOI-MOSFETにおける単電子の帯電メモリ効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• PドープSi SOI-MOSFETにおける単電子の帯電メモリ効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• リンをドープした単一および多重ドットSOI-FETによるフォトン検出(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• Silicon nanodevice potential investigation by low temperature Kelvin Probe Force Microscope
• Photon irradiation effects on Si multiple-tunnel-junction field-effect transistors : Sensing the presence of a single-charge in the substrate
• Photon irradiation effects on Si multiple-tunnel-junction field-effect transistors : Sensing the presence of a single-charge in the substrate
• 光照射下でのSOI-FETsの間欠型電流(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 極薄ナノスケールSiトランジスタにおける二つのドナー間単電子移動(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 光照射下でのSOI-FETsの間欠型電流(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 極薄ナノスケールSiトランジスタにおける二つのドナー間単電子移動(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 個々のドーパント原子を利用したシリコンナノデバイス : デバイス特性とフォトンセンシング機能
• 個々のドーパントポテンシャルと電子帯電のKFM観測(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 個々のドーパントポテンシャルと電子帯電のKFM観測(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 第一原理計算によるシリコンナノトランジスタ中の単一リン不純物の電子状態解析(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 第一原理計算によるシリコンナノトランジスタ中の単一リン不純物の電子状態解析(機能ナノデバイス及び関連技術)

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