高集積LSIに対するテスト生成高速化の一手法

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概要

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LSIの高集積化、大規模化に伴い、論理回路の診断は、回路全体を一括してテストする一括診断方式から、スキャン回路を前提とし、回路を分割してテストする分割診断方式が主流となってきた。しかし、分割診断方式では、スキャン回路やスキャン方式に関わる論理制約違反部のテストができない。本稿では、これらの問題を解決する一手法として、分割診断方式を主体として、スキャン回路専用のテスト生成システムや一括診断方式のテスト生成システムを併用するハイブリッド型のテスト生成システムを提案する.
社団法人情報処理学会の論文
1990-03-14

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