N^2個の論理値を扱うテストパターン生成アルゴリズム
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概要
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近年,論理回路の大規模化に伴い,論理回路の故障診断はスキャン設計を利用して回路全体の故障診断を組合せ回路の故障診断に帰着させるスキャンパス法が主流になりつつある.スキャンパス法においては,回路分割時にうまく組合せ回路に取込めない部分か生じるために,不確定値U(0か1かが不明な値)の導入が必要である.FANにより不確定値の存在する組合せ回路のテストパターン生成を行う場合,従来の0,1,D,D^^-,Xの5値の論理値体系にUを追加するという方法がまず思い浮かぶ.しかし,この6値FANでは,テストパターンが存在するのに生成できないケースや不要なバックトラックを起こすケース等が生じる.これらの問題を解決するためには,アルゴリズムの抜本的な論理値拡張が必要である.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-03-15
著者
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