旦代 三弥子 | (株)日立製作所
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概要
関連著者
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森脇 郁
(株)日立製作所
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旦代 三弥子
(株)日立製作所
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新舎 隆夫
(株)日立製作所
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新舎 隆夫
日立
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新舎 隆夫
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
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松嶋 潤
(株)日立製作所
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中田 孝広
(株)日立製作所
著作論文
- REDUCTを利用した高検出率分割診断システムの開発と評価
- 回路簡約手法を用いた冗長故障判定アルゴリズムREDUCT
- N^2個の論理値を扱うテストパターン生成アルゴリズム
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