REDUCTを利用した高検出率分割診断システムの開発と評価
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概要
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近年、計算機のより複雑な機能実現のために、LSIの高集積化、大規模化が顕著である。複雑なシステムの信頼性向上のためには、計算機を構成するLSIの高品質な検査が必須である。このため大規模な論理回路はスキャン回路を利用して回路を複数の小規模な組合せ回路に分割し診断を行う分割診断システムを利用している。分割診断システムの検出率向上のために、高性能冗長故障判定アルゴリズムREDUCT(RedundantFaultIdentificationAlgorithmusingCireuitReductionTechniques)を組み込み大型コンピュータ向けのLSI約100種に適用した。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1993-03-01
著者
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