スキャン回路用テストパターン生成方式
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概要
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近年、LSIの大規模化、高集積化の伸展に伴い、LSIの故障診断を迅速に行うことがますます困難になってきている。そこで、この問題に対処するため、スキャン回路専用診断方式、分割診断方式、一括診断方式を組合せたハイブリッド型故障診断システムを開発した。本稿では、スキャン回路専用診断方式の中核をなすスキャン回路用テストパターン生成方式について述べる。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1990-09-04
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