森脇 郁 | (株)日立製作所
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概要
関連著者
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森脇 郁
(株)日立製作所
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新舎 隆夫
(株)日立製作所
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日立
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馬場 義紀
日立コンピュータエンジニアリング(株)
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鈴木 茂
(株)日立制作所小田原工場
著作論文
- 高集積LSIに対するテスト生成高速化の一手法
- スキャン回路用テストパターン生成方式
- 高速論理LSI用遅延テスト生成方法
- メモリ内蔵L S I テスト手法の一考察
- REDUCTを利用した高検出率分割診断システムの開発と評価
- 回路簡約手法を用いた冗長故障判定アルゴリズムREDUCT
- N^2個の論理値を扱うテストパターン生成アルゴリズム
- N^2個の論理値を扱うテストパターン生成アルゴリズム
- 差動回路向けテスト生成手法
- 検査容易化構造をもつ順序回路のテスト自動生成
- 論理LSI用ディレイ・テスト生成システム