論理LSI用故障位置指摘システム
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概要
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情報処理装置を構成するLSIの回路集積度は、飛躍的に増大し、LSIの検査用データの作成コストは増加の一途を辿っている。LSIの検査には、良品/不良品の判定と不良品について故障の位置を推定する故障位置指摘の2つの技術がある。特に後者は、製品の開発期間短縮、品質向上の為に重要な技術となっている。そこで、我々は、論理LSIのDCファンクション不良サンプルについて故障位置を自動的に指摘する故障位置指摘システムを開発した。本システムは、故障シミュレータを効率良く段階的に用いることにより処理時間の増加を抑えていることを特徴としており、論理LSIの不良解析に適用している。本稿では、故障位置指摘システムの概要及び適用結果について述べる。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-03-15
著者
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