大規模マクロセルを含むVLSIテスト生成の一手法

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概要

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高集積回路(LSI)の一般的に用いられる検査手法として、論理シミュレーションに用いたテストデータと人手で作成したデータを用いる機能診断と、すべてのフリップ・フロップ(FF)にスキャン回路を設け全論理を小さな組合せ回路に分割し、自動で診断パターンを生成する回路分割診断(以後分割診断と呼ぶ)がある。表1に機能診断と分割診断の得失を示す。本論文は、1つのLSI内で各部の性質に合わせ、機能診断と分割診断を併用した場合の分割診断部の実現法について述べる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1989-10-16

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