ニューラルネットによるLSIモジュール配置手法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
半導体技術の進歩に伴うLSIの高集積化・高機能化の要求に応えるためには、並列処理による高速かつ高性能な最適化手法が必要である。ここでは、LSIモジュール配置問題の目的関数及び制約条件を連続変数の相互結合型ニューラルネットのエネルギー関数に変換しニューラルネットのもつダイナミクスを用いて最適配置を求める方法を提案する。そしてテストデータとLSIの実データを用いて従来手法と比較評価することによりその有効性を示す。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-10-16
著者
関連論文
- 高集積LSIに対するテスト生成高速化の一手法
- 経路並列による順序回路テスト生成の並列化
- 実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システム DESCARTES の故障並列に関する評価
- 並列学習操作による冗長故障判定手法
- 並列学習操作による冗長故障判定手法
- 実数値シミュレーションを利用した順序回路テスト生成
- 高速論理LSI用遅延テスト生成方法
- 入力遷移制限付2パターンテストによる組合せ回路の遅延テストについて
- 温度並列シミュレーテッドアニーリング法に基づくスタンダードセル配置プログラム
- 並列オブジェクトモデルに基づくLSI配線プログラム (並列処理)
- 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
- 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
- 非零対角要素を持つホップフィールドニューラルネットを用いたLSIモジュール配置法
- 確率的ニューラルネットによるLSIモジュール配置手法
- ニュ-ラルネットによるLSIモジュ-ル配置手法
- ニューラルネットによるLSIモジュール配置手法
- ゲートアレイ用レイアウトCADシステム
- 検査容易化構造をもつ順序回路のテスト自動生成
- 論理LSI用ディレイ・テスト生成システム
- 検査容易なLSI論理回路の自動設計方式