検査容易なLSI論理回路の自動設計方式

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概要

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論理回路のテストを容易にするため, これまでにいくつかのスキャン方式が開発され実用化されている. しかし, 適用分野によってはスキャン方式は論理設計規則の煩雑さのために, 論理設計者に受け入れられにくいという問題があった. 本論文では論理LSIを対象に, 一般の論理回路からスキャン構造を有する論理回路への自動変換によってこれらの論理設計規則の大部分を排除できる方式を提案する. 特に, これを実現するためのスキャン構造とフリップ・フロップの構造を示すとともに, 論理回路変換の手順を示す. 変換された論理回路は四つのスキャン制御用外部入力ピンをもち, これらの4個のピンが1レベルのとき変換前のもとの論理回路と機能的に同じ動作をするという特徴をもっている.
一般社団法人情報処理学会の論文
1986-01-15

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