BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減 (テストと設計検証論文特集)

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概要

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本論文では, BIST方式によって設計された回路の故障検出率を向上する検査点挿入方式において, 遅延オーバヘッドを低減するためにセル置換限定手法を提案する. この特徴は, 制御点挿入可能な位置をセルの型で限定することと, セルを挿入せずに置換することにより制御点を実現することの2点である. 一方, セル置換限定手法適用時の面積オーバヘッドを低減するため, 効率の良い検査点指摘アルゴリズムを提案する. その特徴は, 故障検出率を反映したコスト関数による最適化方法, 複数個の検査点を同時に指摘・削除することにより高速化された反復改善法の導入, 検査点の優先順位を最適化することによる検査点数の最小化方法の3点である. 提案したアルゴリズムの有効性を確認するため, 試行回路を用いた実験結果を示す.
社団法人電子情報通信学会の論文
1999-07-25

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