市場不良率と総合検出率の関係に関する考察
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概要
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量産中のLSIの出荷前検査の結果から,設計中のLSIで目標の市場不良率を達成するために必要なテストパタンの故障検出率を推定する手法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
畠山 一実
(株)日立製作所日立研究所
-
高嶺 美夫
(株)日立製作所中央研究所
-
和田 弘樹
株式会社ルネサステクノロジ
-
中尾 教伸
株式会社ルネサステクノロジ
-
大谷 誠
九州工業大学大学院生命体工学研究科
-
大谷 誠
九州工大 大学院生命体工学研究科
-
中尾 教伸
(株)日立製作所半導体グループ
-
和田 弘樹
(株)日立製作所半導体グループ
-
大坪 匡
(株)日立製作所半導体グループ
-
大谷 誠
(株)日立製作所半導体グループ
-
畠山 一美
(株)日立製作所日立研究所
-
高嶺 美夫
(株)日立製作所半導体グループ
-
畠山 一実
(株)日立製作所半導体グループ
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