中尾 教伸 | 株式会社ルネサステクノロジ
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概要
関連著者
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中尾 教伸
株式会社ルネサステクノロジ
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中尾 教伸
(株)日立製作所半導体グループ
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畠山 一実
(株)日立製作所半導体グループ
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畠山 一実
(株)日立製作所日立研究所
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畠山 一美
(株)日立製作所日立研究所
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小林 誠治
(株)日立製作所中央研究所
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飯島 一彦
(株)日立製作所 汎用コンピュータ事業部
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寺田 聖二
(株)日立ビジネスソリューション
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飯島 一彦
(株)日立製作所
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伊達 博
株式会社日立製作所日立研究所
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佐藤 康夫
(株)日立製作所
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佐藤 康夫
(株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター
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伊達 博
(株)日立製作所日立研究所
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清重 賢一
(株)日立製作所半導体グループ
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夏目 幸一郎
(株)日立製作所半導体グループ
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東 功
(株)日立製作所 汎用コンピュータ事業部
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夏目 幸一郎
(株)日立製作所 中央研究所
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南雲 宇晴
(株)日立製作所
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和田 弘樹
株式会社ルネサステクノロジ
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南雲 宇晴
(株)日立製作所エンタープライズサーバ事業部
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宮崎 政英
半導体理工学研究センター
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岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
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福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
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高嶺 美夫
(株)日立製作所中央研究所
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山元 廣志
株式会社ルネサステクノロジ
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小串 亨
株式会社ルネサステクノロジ
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大谷 誠
九州工業大学大学院生命体工学研究科
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大谷 誠
九州工大 大学院生命体工学研究科
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畠山 実
(株)日立製作所半導体グループ
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和田 弘樹
(株)日立製作所半導体グループ
-
大坪 匡
(株)日立製作所半導体グループ
-
大谷 誠
(株)日立製作所半導体グループ
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池谷 豊人
(株)日立製作所半導体グループ
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中尾 教伸
日立製作所日立研究所
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伊達 博
日立製作所日立研究所
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宮崎 政英
日立製作所日立研究所
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畠山 一実
日立製作所日立研究所
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宮崎 政英
(株)日立製作所日立研究所
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高嶺 美夫
(株)日立製作所半導体グループ
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佐藤 康夫
(株)日立製作所デバイス開発センタ
著作論文
- システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
- デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
- デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
- 近傍パターン群発生によるデターミニスティックBIST方式
- 多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
- 市場不良率と総合検出率の関係に関する考察
- 多種クロックをもつ論理回路の組込みテスト
- International Test Conference 1999 (ITC '99)
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減 (テストと設計検証論文特集)
- BIST向け検査点挿入方式のFF共用に関する考察
- BIST向け検査点挿入方式のFF共用に関する考察
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバーヘッドの低減
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバーヘッドの低減
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバーヘッドの低減
- BIST向け検査点挿入位置決定方法の高速化
- BIST向け検査点挿入位置決定方法の高速化
- BIST向け検査点挿入位置決定方法の高速化
- 経路並列による順序回路テスト生成の並列化
- 実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システム DESCARTES の故障並列に関する評価
- 並列学習操作による冗長故障判定手法
- 並列学習操作による冗長故障判定手法