佐藤 康夫 | (株)日立製作所

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概要

• 同名の論文著者
• (株)日立製作所の論文著者

関連著者

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター

• 中尾 教伸

  (株)日立製作所半導体グループ

• 中尾 教伸

  株式会社ルネサステクノロジ

• 佐藤 康夫

  日立製作所デバイス開発センタ

• 山崎 巌

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 畠山 一実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 山崎 巌

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 畠山 一実

  (株)日立製作所日立研究所

• 石井 建基

  (株)日立製作所

• 畠山 一美

  (株)日立製作所日立研究所

• 山中 宏樹

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所

• 檜山 徹

  (株)日立製作所 エンタープライズサーバ事業部

• 鈴木 勝喜

  (株)日立製作所

• 佐々木 哲雄

  日立

• 長尾 葉介

  日立製作所汎用コンピュータ事業部

• 長尾 葉介

  (株)日立製作所

• 浜本 正人

  (株)日立製作所

• 清重 賢一

  (株)日立製作所半導体グループ

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所半導体グループ

• 池田 聡雄

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 佐々木 哲雄

  (株)日立製作所

• 檜山 徹

  (株)日立製作所エンタープライズサーバ事業部

• 檜山 徹

  (株)日立製作所

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所エンタープライズサーバ事業部

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所 中央研究所

• 浜本 正人

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 福本 聡

  東京都立大学大学院工学研究科

• 小川 泰

  (株)日立製作所 半導体事業部技術開発本部

• 高倉 正博

  日立エンジニアリング(株)

• 伊藤 卓司

  (株)日立製作所

• 小林 誠治

  (株)日立製作所中央研究所

• 河野 正樹

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 川嶋 良之

  日立ソフトウエアエンジョアリング (株)

• 荻野 正朗

  日立ソフトウエアエンジョアリング (株)

• 池本 康博

  (株)日立製作所

• 高橋 幸治

  日立ソフトウエアエンジニアリング (株)

• 谷口 富夫

  日立ソフトウエアエンジニアリング (株)

• 竹内 久博

  (株)日立製作所

• 遠藤 潔

  日立ソフトウエアエンシニアリング(株)

• 畠山 実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 中尾 教伸

  (株)日立製作所半導体事業部 : 現在 (株)ルネサステクノロジ

• 池谷 豊人

  (株)日立製作所半導体グループ

• 永瀬 八大

  (株)日立製作所

• 徳山 弘毅

  (株)日立製作所

• 小川 泰

  (株)日立製作所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所 マイクロデバイス事業部

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

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著作論文

• LSI 補修パターン整形システム
• LSI 補修設計自動化システム
• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• 多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
• 多種クロックをもつ論理回路の組込みテスト
• 基板電圧バックバイアス状態での低電圧テストにおける短絡欠陥検出能力の評価(テスト手法, LSIのテスト・診断技術論文)
• 擬似ランダム論理BISTにおけるテストパターン品質の評価(フォールトトレランス)
• 完全オープン故障に対するカップリング効果を考慮した診断手法
• 完全オープン故障に対するカップリング効果を考慮した診断手法
• 欠陥ベース故障診断手法
• パスディレイ最適化配置方式
• フリーチャネルゲートアレイの配置手法
• 故障診断における欠陥モデルの動向 : チュートリアル(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• テスト設計における最近の課題と展望(設計/テスト/検証)
• テスト設計における最近の課題と展望

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