完全オープン故障に対するカップリング効果を考慮した診断手法
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概要
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本報告では、完全オープン故障等の動作不安定な欠陥に対する、レイアウト情報を積極的に利用した新しい診断手法を提案する。完全オープン欠陥に対して、単に欠陥となる故障動作に着目するだけでなく、欠陥の不安定動作を誘発する他の信号の動作にも着目することにより、「セグメントモデル」と呼ぶ診断手法を考案した。本論分では、最初にレイアウト情報を活用したオープン故障の新診断手法の概念を紹介し、次に実際のLSIチップでの評価解析例を用いて本手法の有効性を示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-01-24
著者
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山崎 巌
(株)日立製作所マイクロデバイス事業部
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佐藤 康夫
(株)日立製作所
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佐藤 康夫
(株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター
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山中 宏樹
(株)日立製作所デバイス開発センタ
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山崎 巌
(株)日立製作所デバイス開発センタ
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